Компьютерная микроскопия при изучении предмета микроэлектроники

Автор: Галеева Луиза Хамитовна, Сайфуллина Дана Вахитовна

Журнал: Образовательные технологии и общество @journal-ifets

Статья в выпуске: 1 т.18, 2015 года.

Бесплатный доступ

Статья посвящена вопросам использования метода анализа изображений в учебном процессе при изучении предмета микроэлектроники. Процесс обучения студентов технических ВУЗов невозможен без демонстрации микроизображений образцов, сопровождающейся необходимыми пояснениями преподавателя. Просмотр микрообъектов полезно дополнить лекционным и практическим курсом применения методов компьютерного анализа изображений.

Микроэлектроника, компьютерный анализ изображений, обучение

Короткий адрес: https://readera.ru/14062590

IDR: 14062590

Статья научная